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小型高低溫試驗箱開發(fā)目的
2014-11-10 來源：正航儀器 作者：正航網絡 閱讀：次
龐大的電子設備或系統(tǒng)，其溫度特性能否達標，首先取決于對溫度特別敏感或抗溫能力比較薄弱的局部單元，它們可能是一個或幾個小分機小部件，甚至是一塊或幾塊電路板，一個或若干個模塊或元器件。
如果這些部分的溫度特性不達標，則整機或系統(tǒng)也必然通不過因而，對這些小單元先作摸底試驗或只對這些小單元作例行溫度試驗就尤為必戛國外也有這樣一種發(fā)展趨勢，即將大型設備分解成若干小單元，只對這些小單位分別作考核而不再進行全系統(tǒng)的溫度試驗電子設備或系統(tǒng)的熱可靠性是設計出來的，最后的整機溫度試驗只能起一個考評作用，因而從初始設計階段的樣機搭試起就應作溫度摸底試驗，以使原理電路和制造工藝得以完成這就需要小型的高、低溫試驗箱像普通儀器儀表那樣成為電路設計師和結構設計師們手頭的常用工具。
目前國內外的高低溫試驗箱大都沒有接口設施，設備做試驗時，往往有一大把拖線從門縫或開孔中引出進行各種電信息的內外連接，不但操作極不方便，而且還會因孔縫漏熱造成能源浪費和箱內溫度場的不均勻，大大降低了試驗結果的可信度如果高低溫試驗箱可以根據用戶的需要預裝各種試驗接口裝置，如電源、低頻、高頻、微波等各種用途的插頭座和電纜，確保試件在密封狀態(tài)下完成全部試驗及其檢測工作，則必將大大提高試驗設備的實用性和可靠性。綜上所述，可見開發(fā)一種(系列)主要用于動態(tài)試驗具有廣容接口的小型、實用、價廉的高低溫試驗箱，確實是進一步完善全面質量管理的辦法。http://m.fcff.com.cn/
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